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航天科工防御技术研究试验中心

元器件结构分析

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针对器件内部结构、材料与工艺,甚至是内部管芯各层结构的工艺质量情况进行检查,发现其不适应特点产品使用环境的要求的内部及外部因素或禁限用工艺等。并针对所发现的问题,提出改进建议。

应用于元器件装机之前,结合内部工艺结构特点和应用环境因素,采用多种试验方法综合分析,给出器件在特点环境下适用、限用或禁用的结论。类型包含:半导体器件、新研国产器件、进口工业级器件等。


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