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北京控制与电子技术研究所

自动化测试产品-便携式通用测试设备

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北京控制与电子技术研究所

经营模式: 职能机构或其他

所在地区: 北京北京市

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一、产品概述

便携式通用测试设备是一款面向航空航天、舰船、交通及武器装备等行业中、小规模电子系统测试需求开发的通用化测试产品。该产品采用通用测试平台框架,基于CPCI/PXI(e)/LXI硬件测试平台提供灵活丰富的测试资源配置,配合开放式虚拟测试软件开发平台,使产品具有面向不同测试需求的快速移植能力及敏捷应变能力。

本产品结构采用标准化、栈式加固便携式机箱,该机箱采取双层全铝合金结构,支持3U8~13槽高度系列,最大限度满足CPCI/PXI/VPX系统扩展需求,机箱集成一体化液晶显示屏、鼠标键盘,满足恶劣环境工作需求。该结构形式具有资源配置灵活、扩展能力强、使用维护方便等特点,适用于航空航天、船舶、交通等行业中、小规模电子系统研制、生产以及配套等环节的技术保障应用。

二、技术特点

开放式分层体系结构

模块化硬件资源配置平台

开放式虚拟软件开发平台

标准化、便携式机箱

分离式开放信号适配

测试数据结构化集成管理

三、应用领域

弹道导弹系统/分系统级测试

舰船电子设备测试系统

航电通用测试系统

车载电子设备状态监控

四、技术参数

性能指标主板1.1GHz,2G DDR2,500GB HDD
1553B总线1M/4M,支持1BC、31RT
RS232/422/485通讯4路,16Mbps,1K缓冲,数字隔离
ADA数采32路,1‰精度,10V量程
电源28V,800W,纹波Vrms≤2mV、Vp-p≤0.2%
环境指标工作温度-10℃~50℃
贮存温度-40℃~70℃
工作湿度30%~95%
贮存湿度30%~93%
振动5~200Hz,加速度15m/s2
冲击脉宽11ms,峰峰加速度150m/s2
电磁兼容满足GJB3947-2000标准
平均故障间隔时间MTBF≥500h


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